中微公司在CCP刻蚀领域的高深宽比技术已实现突破,相关产品开发顺利,预计一年左右进入市场,这将补全其介质刻蚀版图。半导体设备行业的核心技术壁垒集中在等离子体精确调控、反应腔设计及高深宽比结构刻蚀能力上,这些直接决定了芯片制造的良率与性能。

CCP刻蚀的技术路线与核心壁垒

CCP(电容性等离子体刻蚀)设备主要用于介质材料(如氧化硅、氮化硅)的刻蚀,其技术难点在于实现极高离子能量下对高深宽比结构的精确刻蚀。高深宽比意味着需要在硅片上刻蚀出深而窄的孔或槽,这要求设备能同时控制高密度等离子体、离子能量方向性以及副产物的快速排出。中微公司通过独创的双反应台技术,在保证刻蚀均匀性的同时,为客户节省了约35%的原材料,并已成功覆盖从65nm到5nm的制程工艺,技术实力与拉姆研究等国际巨头处于同一量产水平。

中微公司的技术突破与竞争格局

中微公司的传统优势在CCP领域,其产品已进入台积电7nm和5nm产线,是唯一进入台积电供应链的国产刻蚀设备厂商。目前,公司在CCP设备上的主要欠缺——大马士革刻蚀和高深宽比刻蚀——均已取得关键进展:大马士革刻蚀产品开发接近完成,初步Demo结果良好;高深宽比刻蚀已完成技术突破,产品开发顺利,预计一年左右进入市场。在竞争格局上,全球刻蚀设备市场高度集中,拉姆研究、东京电子和应用材料合计占据约90%份额,而中微公司在大陆市场的份额已达20%,位居第二。

常见问题

中微公司的CCP设备与拉姆研究相比处于什么水平?

在已量产的介质刻蚀领域,中微公司的CCP设备在7nm和5nm制程上均实现了量产,技术能力已追平拉姆研究,且是唯一进入台积电供应链的国产设备厂商。在更高端的3nm制程上,双方均处于研发阶段。

高深宽比刻蚀技术为何是行业的核心壁垒?

高深宽比刻蚀要求设备在深孔或深槽中保持等离子体的高能量和方向性,同时快速排出刻蚀副产物,避免结构变形或损坏。这需要先进的射频电源、气流分布设计和反应腔结构,技术门槛极高,直接决定了3D NAND闪存等高端芯片的制造能力。

中微公司突破高深宽比刻蚀技术对行业有何影响?

该技术突破将补全中微公司CCP产品的完整版图,使其具备与国际龙头在3D存储芯片刻蚀领域竞争的能力,进一步加速国产半导体设备的替代进程。目前该领域仍主要由拉姆研究等海外厂商垄断。

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